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两厢式温度冲击试验箱TC用于温度骤变循环的试验系统。温度骤变循环试验是在生产阶段激发产品潜在缺陷显现的一种最有效方式。半导体行业用于考核器件在短期内反复承受温度变化(循环流动的空气)的能力及不同膨胀系数材料之间的热匹配性能(可选配测试温度180℃,具体参数欢迎致电我司销售热线:0512-57296652)
?两箱垂直排列
? 提篮周围的护栏可取下以?;な匝?/p>
? 热箱的温度工作范围从+50°C至+220°C(可选最高+250°C)
? 冷箱的温度工作范围从-80°C至+70°C
? 试验区内的空气循环速度快、变温时间短、温度分布均匀
? 机箱内安装了用于长期试验的集成式空气补偿系统
? 用于样品供电和测量的大型引线孔
? 高分辨率的彩色触摸屏具有图形显示功能,便于处理环境模拟程序
? 能耗最小化
1 箱体材质:测试区内箱SUS#304不锈钢板,外箱浅沙色粉体烤漆
2 结构组成:预冷储冷区﹑预热储热区﹑提篮区三部份主体结构.
3 储能材料:采高效率铝合金储存较大热容量与冷容量达到冷热交换超效率.
4 移动结构:测试区待测品提篮采用气动控制上下移动
5 测 试 孔:提篮可外接测试电源线及信号用 ( 标准孔100 mm 1个)
6 保 温 层:保温绝缘层耐燃防火 PU + 隔热玻璃棉.
7 箱 门:全开单翼型,带有双层硅橡胶密封和门锁
8 置 物 架:可活动调整栅盘架与SUS304#不锈钢条状栅盘1只,承重≥20KG。
9移动脚轮:强力螺栓固定位置支撑脚6个,移动调整轮6个(500Kg /轮 )移动试验箱用
1 控制器:7.5英寸 TFT 彩色LCD触控显示器,中英文可切换
2 温度传感器:JIS RTD PT 100 Ω × 3 ( 白金感应器 )
3 控制器功能:
A.程序容量:20个程序。每个程序最大3步;每个程序可设999次循环
B.显示精度:0.1℃
C.运行方式:程序方式,设定方式中文菜单,触摸屏方式输入
D.程序方式:A:两箱测试规格:高温 低温(可选择高温开始或低温开始)
E.演算方式:PID微积分演算方式
F.曲线显示:实时曲线显示,数据存储USB接口
G.启动方式:可设定预约启动时间,断电模式可选择:继续/重新/?;?/p>
H.温度?;ぃ荷瓒ㄊ匝槌绦虼⒋嫱?,自动设定高低温度?;ど舷孪?/p>
I.自动冲击/除霜:自动运转中自动冲击与除霜,运转中可手动暂停冲击与除霜控制
J. 通信方式:RS-232转换器可连接单机电脑(可选配:RS-485远程连接监控)
K.故障侦测:故障信号侦测、故障报警及原因、处理提示功能、故障记录
1 漏电断路器安全?;?nbsp;
2 三相电源欠.逆相?;び敫鞲涸毓缌?(过负载) ?;ぷ爸?
3 控制器内部自我自动侦测?;ぷ爸?/p>
A.预热储热区第一层高温超温?;? (运转控制温度高于高温?;ど瓒ㄖ?
B.预冷储冷区第一层高温超温?;? (运转控制温度高于高温?;ど瓒ㄖ?
C. 故障检知控制接口. (外部故障自动侦测?;ぷ爸?
预热储热区第二层高温超温?;? (电子式高温超温?;ど瓒ㄖ?
预热储热区第三层高温超温?;? (固定式高温超温?;ど瓒ㄖ?
D.预冷储区
压缩机 1 冷媒压力?;ぜ肮涸乇;ぷ爸?
压缩机 2 冷媒压力?;ぜ肮涸乇;ぷ爸?
4 气压驱动机构气压源压力?;び敫邷乇;ぷ?/p>
产品型号 | ATC-F415 | ATC-F515 | ATC-F615 | ATC-G415 | ATC-G515 | ATC-G615 | ATC-H415 | ATC-H515 | ATC-H615 | ATC-K415 | ATC-K514 | ATC-K615 |
提篮容积(L) | 48 | 75 | 108 | 256 | ||||||||
内箱尺寸 (W×H×D)mm | 400×300×400 | 500×300×500 | 600×300×600 | 800×400×800 | ||||||||
外箱尺寸 (W×H×D)mm | 1400×2200×1820 | 1500×2200×2120 | 1620×2220×2220 | 1910×2200×2580 | ||||||||
温度范围℃ | -70~+200 | |||||||||||
高温箱温度范围℃ | +20~200 | |||||||||||
低温箱温度范围℃ | -70~-10 | |||||||||||
高温冲击max℃ | +150/+180 | |||||||||||
低温冲击max℃ | -40 | -55 | -65 | -40 | -55 | -65 | -40 | -55 | -65 | -40 | -55 | -65 |
温度波动度℃ | ±0.5~1.0 | |||||||||||
温度均匀度℃ | ±0.5~2.0 | |||||||||||
吊篮转换时间sec | ≤10 | |||||||||||
恢复时间min | ≤3 | |||||||||||
冷却方式 | 水冷方式(可选配风冷式) | |||||||||||
执行标准 | IEC60068-2-1/ GB/T2423.1-2008:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》 IEC60068-2-2/ GB/T2423.2-2008:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温》 IEC60068-2-14/ GB/T2423.22-2012:《 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N: 温度变化》 GB/T10592-2008 《高低温试验箱技术条件》GJB 150.3-2008 《高温试验》 GJB 150.4-2008 《低温试验》 GJB 150.5-2008 《温度冲击试验》 JESD22-A104,IEC60068-3-5 等 | |||||||||||
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