

行業 | 檢測對象 | 可靠性試驗項目 | 試驗標準 | 嚴酷等級 | 解決方案 |
IGBT模塊 IPM模塊 SIC |
| 溫度循環 TC | JESD22-A104 | 175℃~-65℃ 50cycle/100cycle/1000cycle | ATC-H618 |
低溫存儲試驗LTSL | JESD22-A11 | -55℃ 168h/500h/1000h | ALT-B515 | ||
高溫存儲試驗 HTS | JESD22-A103C | 150℃ 168h/500h/1000h | ARUL-E030 | ||
穩態濕熱試驗 THB | JESD22-A101C 5 | 85℃/85%RH 168h/500h/1000h | ASTH-A215 | ||
高溫高濕壓 H3TRB | AEC -Q101 JESD22A-101 | 85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h/1000h | AS-H3TRB-H8 | ||
高溫反偏HTRB | JESD22-A108 | 175℃/125℃/VRRM*80%/Tj(max)168h/500h/1000h | AS-HTRB-B8 | ||
高溫柵反偏試驗HTGB | JESD22A-108 AEC-Q101 | 175℃/150℃/VRRM*100%/Tj(max) 168h/500h/1000h | AS-HTGB-C12 | ||
高壓加速壽命試驗PCT | JESD22-A11 | 121℃/100%RH/2atm 96h/168h | APCT-V0113 | ||
高加速老化試驗 | JESD22-A110 | 130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h | AS-HAST-B0120 | ||
分 立 器 件 | | 溫度循環(TCT) | GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D | 150℃~-55℃/-40℃ 50cycle/100/1000cycle | ATC-F515 |
低溫存儲試驗LT | JESD22-A11 | -55℃ 168h/500h/1000h | ALT-A515 | ||
高溫存儲試驗 HTS | JESD22-A103C | 150℃ 168h/500h/1000h | ARUL-J020 | ||
高溫反偏 | GB/T 15291-1994 6.2 JESD22-A108C | VRRM*80%/Tj(max) 168h/500h/1000h | AS-HTRB-F16 | ||
恒溫恒濕(H3TRB) | GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C | 85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h | AS-H3TRB-H8 | ||
高加速耐濕及偏壓HAST | GB/T 4937.4-2012 JESD22-A110D | 130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h | AS-HTGB-C16 | ||
高壓蒸煮(PCT) | JESD22-A102-C | 121℃/100%RH/2atm 96h/168h | APCT-W0113 |