半導體行業_氣候模擬試驗箱設備_可靠性試驗設備-蘇州安而森試驗設備有限公司

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半導體行業: 當今，無論是各路資本爭相進入的AI行業還是已經引起多國政府關注的5G技術，這一切離不開半導體的支持。在我們越來越依賴半導體的同時，又對它們的安全性和工作壽命提出了更高的要求。那么我們又如何預知它們的壽命呢？答案只有一個：模擬和篩選。安而森有著各類符合行業最高標準的環境試驗設備和老化設備為您提供判斷依據，讓您的產品出廠無憂。

行業	檢測對象	可靠性試驗項目	試驗標準	嚴酷等級	解決方案
IGBT模塊 IPM模塊 SIC		溫度循環 TC	JESD22-A104	175℃~-65℃ 50cycle/100cycle/1000cycle	ATC-H618
		低溫存儲試驗LTSL	JESD22-A11	-55℃ 168h/500h/1000h	ALT-B515
		高溫存儲試驗 HTS	JESD22-A103C	150℃ 168h/500h/1000h	ARUL-E030
		穩態濕熱試驗 THB	JESD22-A101C 5	85℃/85%RH 168h/500h/1000h	ASTH-A215
		高溫高濕壓 H3TRB	AEC -Q101 JESD22A-101	85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h/1000h	AS-H3TRB-H8
		高溫反偏HTRB	JESD22-A108	175℃/125℃/VRRM*80%/Tj（max）168h/500h/1000h	AS-HTRB-B8
		高溫柵反偏試驗HTGB	JESD22A-108 AEC-Q101	175℃/150℃/VRRM*100%/Tj（max） 168h/500h/1000h	AS-HTGB-C12

		高壓加速壽命試驗PCT	JESD22-A11	121℃/100%RH/2atm 96h/168h	APCT-V0113
		高加速老化試驗	JESD22-A110	130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h	AS-HAST-B0120
分立器件		溫度循環(TCT)	GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D	150℃~-55℃/-40℃ 50cycle/100/1000cycle	ATC-F515
		低溫存儲試驗LT	JESD22-A11	-55℃ 168h/500h/1000h	ALT-A515
		高溫存儲試驗 HTS	JESD22-A103C	150℃ 168h/500h/1000h	ARUL-J020
		高溫反偏	GB/T 15291-1994 6.2 JESD22-A108C	VRRM*80%/Tj（max） 168h/500h/1000h	AS-HTRB-F16
		恒溫恒濕(H3TRB)	GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101C	85℃/85%RH/VD=100V 168h/500h	AS-H3TRB-H8
		高加速耐濕及偏壓HAST	GB/T 4937.4-2012 JESD22-A110D	130℃/85%RH/0.23MPa/VD=100V 96h/168h	AS-HTGB-C16
		高壓蒸煮(PCT)	JESD22-A102-C	121℃/100%RH/2atm 96h/168h	APCT-W0113

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